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    QCM-I石英晶體微天平的操作流程與實驗方法指南

    點擊次數:394 更新時間:2024-04-03
       QCM-I石英晶體微天平是一種常用的實驗室儀器,用于測量樣品的質量變化。其工作原理基于石英晶體的壓電效應,通過測量晶體振蕩頻率的變化來計算樣品的質量變化。
     
      一、操作流程
      1.準備樣品:根據實驗目的準備合適的樣品,確保樣品與QCM-I石英晶體微天平的兼容性。
     
      2.預熱儀器:將它連接至電源,預熱15-30分鐘,確保儀器穩定。
     
      3.安裝晶體:將石英晶體安裝到儀器的晶體夾具上,確保晶體與夾具接觸良好,無松動現象。
     
      4.調整晶體頻率:通過儀器面板上的調節旋鈕,將晶體的振蕩頻率調整至預定值。
     
      5.儀器校準:在未加載樣品的情況下,記錄晶體振蕩頻率,作為實驗前的基準值。
     
      6.加載樣品:將樣品緩慢地滴加到石英晶體表面,確保樣品均勻分布在晶體表面。
     
      7.觀察和記錄數據:在加載樣品后,繼續觀察晶體振蕩頻率的變化,記錄數據。當頻率變化穩定后,可計算樣品的質量變化。
     
      8.實驗結束:實驗完成后,將晶體從儀器上取下,清洗并干燥,以備下次使用。
     QCM-I石英晶體微天平
      二、實驗方法
      1.單點測量法:在實驗過程中,只使用一個頻率點進行測量。此方法適用于測量質量變化較大的樣品。
     
      2.雙點測量法:在實驗過程中,使用兩個頻率點進行測量,通過計算頻率差來消除溫度和其他因素的影響。此方法適用于測量質量變化較小的樣品。
     
      3.三點測量法:在實驗過程中,使用三個頻率點進行測量,通過計算頻率差來消除溫度和其他因素的影響。此方法適用于測量質量變化較小的樣品,具有更高的精度。
     
      三、注意事項
      在使用QCM-I石英晶體微天平時,應注意以下幾點:
      1.避免晶體受損:在安裝和取下晶體時,應小心操作,避免晶體受損。
     
      2.避免樣品污染:在加載樣品時,應避免樣品污染晶體和儀器其他部分。
     
      3.保持儀器清潔:實驗結束后,應清洗并干燥晶體,保持儀器的整潔。
     
      4.避免過載:在加載樣品時,應避免超過晶體的承載能力,以免損壞晶體。
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